Ementa: Introdução a microscopia ótica, interação da radiação eletromagnética com a matéria, introdução a microscopia eletrônica, microscopia eletrônica de varredura, microscopia eletrônica de transmissão, microanálise estrutural através da microscopia eletrônica, difração e espectroscopia de elétrons, introdução à microscopia de força atômica, princípios básicos, modo contato, modo não-contato, modo contato intermitente, modo força elétrica e magnética, microscopia de varredura por tunelamento, microscopia ótica de campo próximo, aplicações e vantagens, limitações, características instrumentais, preparo de amostras, análise de micrografias, instrumentação.
Bibliografia: 1. Williams, D. B. and Carter, C. B. Transmission Electron Microscopy, Ed. Springer, 1996.
2. J. I. Goldstein, D. E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin, Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis A text for biologists, materials scientists and geologists, Plenum Press, New York, 1992.
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5. Jean M. Bennett and Lars Mattson, Introduction to surface roughness and scattering, optical society of America, 1999.
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